产品类别
您当前的位置:首页 > 产品中心 > 晶圆自动缺陷检测设备 ProEye01
晶圆自动缺陷检测设备 ProEye01
应用于Wafer和chip工艺中需要自动化、快速检测以及高精度测量的场景,我们基于样品的特点对缺陷探测精度、生产效率、易用性进行了优化,提供了自动和手动操作模式,非常适合作为生产工具和研究开发阶段的工...
应用于Wafer和chip工艺中需要自动化、快速检测以及高精度测量的场景,我们基于样品的特点对缺陷探测精度、生产效率、易用性进行了优化,提供了自动和手动操作模式,非常适合作为生产工具和研究开发阶段的工...