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晶圆自动缺陷检测设备 ProEye01
应用于Wafer和chip工艺中需要自动化、快速检测以及高精度测量的场景，我们基于样品的特点对缺陷探测精度、生产效率、易用性进行了优化，提供了自动和手动操作模式，非常适合作为生产工具和研究开发阶段的工...
应用于Wafer和chip工艺中需要自动化、快速检测以及高精度测量的场景，我们基于样品的特点对缺陷探测精度、生产效率、易用性进行了优化，提供了自动和手动操作模式，非常适合作为生产工具和研究开发阶段的工...
